LIBROS DEL AUTOR: stephane lefebvre

5 resultados para LIBROS DEL AUTOR: stephane lefebvre

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  • Controlling the aging of power transistors
    Douha Othmen / Stéphane Lefebvre / Tarek Ben Salah
    This book presents an in-depth experimental study of the behavior of SiC JFET transistors for demanding aerospace applications. A complete methodology is described, including the design of an automated test bench via LabView, robustness tests to determine the critical energy, and accelerated aging tests to monitor the evolution of electrical parameters. The results obtained hig...
    Disponible

    90,75 €

  • Controllo dell’invecchiamento dei transistor di potenza
    Douha Othmen / Stéphane Lefebvre / Tarek Ben Salah
    Questo libro presenta uno studio sperimentale approfondito sul comportamento dei transistor SiC JFET per applicazioni aerospaziali complesse. Viene descritta una metodologia completa, che comprende la progettazione di un banco di prova automatizzato utilizzando LabView, test di robustezza per determinare l’energia critica e test di invecchiamento accelerato per monitorare i cam...
    Disponible

    90,75 €

  • Kontrola starzenia się tranzystorów mocy
    Douha Othmen / Stéphane Lefebvre / Tarek Ben Salah
    Niniejsza książka przedstawia dogłębne badania eksperymentalne zachowania tranzystorów SiC JFET w wymagających zastosowaniach lotniczych. Opisano kompletną metodologię, w tym projekt zautomatyzowanego stanowiska testowego z wykorzystaniem LabView, testy wytrzymałościowe w celu określenia energii krytycznej oraz testy przyspieszonego starzenia w celu monitorowania zmian parametr...
    Disponible

    92,06 €

  • Controlo do envelhecimento dos transístores de potência
    Douha Othmen / Stéphane Lefebvre / Tarek Ben Salah
    Este livro apresenta um estudo experimental aprofundado do comportamento dos transístores SiC JFET para aplicações aeroespaciais exigentes. É descrita uma metodologia completa, incluindo a conceção de um banco de ensaios automatizado utilizando LabView, testes de robustez para determinar a energia crítica e testes de envelhecimento acelerado para monitorizar as alterações nos p...
    Disponible

    90,75 €

  • Maîtriser le Vieillissement des Transistors de Puissance
    Douha Othmen / Stéphane Lefebvre / Tarek Ben Salah
    Cet ouvrage présente une étude expérimentale approfondie du comportement des transistors JFET SiC destinés aux applications aéronautiques exigeantes. Nous y décrivons une méthodologie complète incluant la conception d’un banc d’essais automatisé via LabView, la réalisation de tests de robustesse pour déterminer l’énergie critique, ainsi que des essais de vieillissement accéléré...
    Disponible

    89,51 €