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Este livro abrangente oferece uma exploração aprofundada das metodologias essenciais em difração de raios X de cristal único (SCXRD) e cristalografia estrutural. Começando com os princípios de recolha de dados e indexação de reflexão, o livro guia os leitores através dos meandros do tratamento de dados, avaliação de qualidade e determinação de simetria. É dada especial ênfase às melhores práticas para aplicar a análise de grupos espaciais, aperfeiçoar modelos atómicos e garantir a fiabilidade dos resultados estruturais.Concebido para servir tanto como uma ferramenta de ensino como uma obra de referência, este volume destina-se a estudantes de pós-graduação, investigadores e profissionais em cristalografia, ciência dos materiais e ciências moleculares.
