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Dieses umfassende Buch bietet eine eingehende Untersuchung der wesentlichen Methoden der Einkristall-Röntgenbeugung (SCXRD) und der Strukturkristallographie. Es bietet einen klaren, schrittweisen Weg von der Erfassung von Beugungsrohdaten bis zur endgültigen Validierung verfeinerter Kristallstrukturen, beginnend mit den Grundsätzen der Datenerfassung und Reflexionsindexierung und führt den Leser durch die Feinheiten der Datenverarbeitung, Qualitätsbewertung und Symmetriebestimmung. Besonderes Augenmerk wird auf bewährte Verfahren für die Anwendung der Raumgruppenanalyse, die Verfeinerung von Atommodellen und die Gewährleistung der Zuverlässigkeit von Strukturergebnissen gelegt.Dieses Buch ist sowohl als Lehrmittel als auch als Nachschlagewerk konzipiert und richtet sich an Studenten, Forscher und Fachleute aus den Bereichen Kristallographie, Materialwissenschaften und Molekularwissenschaften.