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Questo libro completo offre un’esplorazione approfondita delle metodologie essenziali della diffrazione di raggi X su cristallo singolo (SCXRD) e della cristallografia strutturale. Partendo dai principi della raccolta dei dati e dell’indicizzazione della riflessione, il libro guida i lettori attraverso le complessità del trattamento dei dati, della valutazione della qualità e della determinazione della simmetria. Particolare enfasi è posta sulle migliori pratiche per l’applicazione dell’analisi dei gruppi spaziali, per il perfezionamento dei modelli atomici e per garantire l’affidabilità dei risultati strutturali.Progettato per servire sia come strumento didattico che come opera di riferimento, questo volume è destinato a studenti laureati, ricercatori e professionisti della cristallografia, della scienza dei materiali e delle scienze molecolari.
