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Ce livre complet propose une exploration approfondie des méthodologies essentielles de la diffraction des rayons X sur un seul cristal (SCXRD) et de la cristallographie structurale. En commençant par les principes de la collecte des données et de l’indexation de la réflexion, le livre guide les lecteurs à travers les subtilités du traitement des données, de l’évaluation de la qualité et de la détermination de la symétrie. L’accent est mis sur les meilleures pratiques pour appliquer l’analyse des groupes d’espace, affiner les modèles atomiques et assurer la fiabilité des résultats structuraux.Conçu pour servir à la fois d’outil d’enseignement et d’ouvrage de référence, ce volume s’adresse aux étudiants de troisième cycle, aux chercheurs et aux professionnels de la cristallographie, de la science des matériaux et des sciences moléculaires.
