Perdita di massa indotta dal fascio di elettroni nei materiali sensibili

La microscopia elettronica a trasmissione a scansione (STEM) a bassa tensione è un metodo molto interessante, ma poco conosciuto, che presenta un grande potenziale per l’esame di materiali sensibili. Il presente volume si concentra sulla perdita di massa del materiale causata dal fascio di elettroni in questo tipo di microscopio. I materiali analizzati erano mezzi di inclusione puri (Epon, Spurr, LR White) e un campione biologico - Euglena gracilis - in essi incluso. I campioni di diverso spessore sono stati esaminati utilizzando diverse impostazioni del microscopio (tensione di accelerazione, dose totale, corrente della sonda, pulizia al plasma) e le modalità di imaging STEM (campo chiaro, campo scuro). Le immagini raccolte, gli algoritmi creati e i risultati ottenuti sono ampiamente discussi e supportati da grafici e tabelle. Viene presentato un suggerimento per un esperimento ideale in base ai dati misurati. Nel libro viene fornita una descrizione dei principi fisici del TEM, del SEM e dello STEM e della loro idoneità all’osservazione di campioni sensibili agli elettroni. Viene inoltre discussa l’interazione tra il fascio di elettroni e il campione, nonché la preparazione del campione per lo STEM. È inclusa anche una breve descrizione dell’elaborazione di base delle immagini microscopiche con una sezione dedicata al confronto quantitativo delle immagini STEM.