Durch Elektronenstrahl verursachter Massenverlust empfindlicher Materialien

Die Niederspannungs-Rastertransmissionselektronenmikroskopie (STEM) ist eine sehr interessante, aber noch wenig bekannte Methode mit großem Potenzial für die Untersuchung empfindlicher Materialien. Im Mittelpunkt dieses Buches steht der durch den Elektronenstrahl in diesem Mikroskop verursachte Massenverlust des Materials. Die analysierten Materialien waren reine Einbettungsmedien (Epon, Spurr, LR White) sowie eine darin eingebettete biologische Probe - Euglena gracilis. Die Proben unterschiedlicher Dicke wurden unter Verwendung verschiedener Mikroskopeinstellungen (Beschleunigungsspannung, Gesamtdosis, Sondenstrom, Plasmareinigung) und der STEM-Bildgebungsmodi (Hellfeld, Dunkelfeld) untersucht. Die aufgenommenen Bilder, die entwickelten Algorithmen und die erzielten Ergebnisse werden ausführlich diskutiert und durch Grafiken und Tabellen untermauert. Es wird ein Vorschlag für ein ideales Experiment auf der Grundlage der gemessenen Daten vorgestellt. Das Buch enthält eine Beschreibung der physikalischen Prinzipien von TEM, SEM und STEM sowie ihrer Eignung für die Beobachtung elektronenempfindlicher Proben. Die Wechselwirkung zwischen dem Elektronenstrahl und der Probe wird ebenso erörtert wie die Probenvorbereitung für das STEM. Eine kurze Beschreibung der grundlegenden mikroskopischen Bildverarbeitung mit einem Abschnitt über den quantitativen Vergleich der STEM-Bilder ist ebenfalls enthalten.