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Inhaltsangabe:Problemstellung: Selektive Abdeckungen für Sonnenkollektoren zeichnen sich durch hohen Transmissionsgrad im solaren Spektralbereich und hohen Reflexionsgrad im Infraroten aus. Sie ermöglichen die Erzeugung von Prozeßwärme (T > 200°C) aus Sonnenstrahlung ohne Einsatz konzentrierender Systeme. Zur Charakterisierung und Optimierung dieser Schichten ist eine genaue Bestimmung der optischen Eigenschaften notwendig. Bei hohen Kollektortemperaturen (T > 250°C) werden insbesondere die Infraroteigenschaften entscheidend, die mit herkömmlichen Spektrometern nur unzureichend genau bestimmt werden können. Gang der Untersuchung: In dieser Arbeit wird eine Meßmethode vorgestellt, die eine Bestimmung des hemisphärischen Reflexionsgrades bzw. des Verlustanteiles mit einer Genauigkeit von +- 005 ermöglicht. Der Meßaufbau basiert auf einer bereits bestehenden kalorimetrischen Anlage zur Bestimmung des hemisphärischen Emissionsgrades ehe, selektiver Absorber. Es ist mit der in dieser Arbeit umgebauten Anlage auch möglich, Kombinationen aus selektiven Absorbern mit selektiven Abdeckungen zu untersuchen. Aus den Meßergebnissen lassen sich Rückschlüsse auf die Materialparameter der Schicht und damit auf optimierte Herstellungsbedingungen ziehen, was anhand einer selektiven Abdeckung auf Basis einer dünnen Silberschicht gezeigt wird. Als alternative Methode zur Messung der optischen Eigenschaften selektiver Schichten allgemein wird eine Anlage vorgestellt, die nach dem Prinzip der Photodeflexion arbeitet (41. Die Tauglichkeit dieser Methode zur Messung von wurde untersucht und die Ergebnisse vorgestellt. Inhaltsverzeichnis:Inhaltsverzeichnis: TabellenverzeichnisVI Zusammenfassung0 AbbildungsverzeichnisIV 1.Einleitung1 2.Theoretische Grundlagen selektiver Abdeckungen4 2.1Definition der optischen Eigenschaften4 2.1.1Optische Konstanten4 2.1.2Optische Eigenschaften einer Grenzschicht zwischen zwei Medien5 2.1.3Optische Eigenschaften von Schichtsystemen6 2.1
