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Este livro explora em profundidade a análise de erros na Estrutura Fina de Absorção de Raios X (XAFS), que é essencial para garantir a fiabilidade dos resultados experimentais. O primeiro capítulo define os erros em XAFS, distinguindo entre erros estatísticos e sistemáticos, e examina o seu impacto nos resultados. O segundo capítulo centra-se nos erros estatísticos, explicando como estimá-los utilizando vários métodos, como a subtração de funções suaves e a estatística de Poisson. O terceiro capítulo trata dos erros sistemáticos, identificando as suas fontes e propondo métodos para os estimar e gerir. O quarto capítulo trata da estimativa e comunicação dos limites de confiança, descrevendo procedimentos normalizados para avaliar a qualidade dos ajustamentos. Finalmente, o quinto capítulo analisa a qualidade do ajustamento e a relação sinal/ruído, oferecendo métodos para avaliar a relação sinal/ruído e interpretar os resultados. Este guia prático foi concebido para melhorar a exatidão e a transparência na análise de dados XAFS.
